電子系統(tǒng)的腐蝕
電子系統(tǒng)被各個(gè)領(lǐng)域廣泛應(yīng)用要得益于上世紀(jì)90年代后電子技術(shù)的飛速發(fā)展。電子系統(tǒng)給人們帶來(lái)便捷生活的同時(shí)自身的腐蝕問(wèn)題也浮出水面。由于電子系統(tǒng)對(duì)大氣環(huán)境的要求往往要比人類健康生活對(duì)環(huán)境的要求高幾個(gè)數(shù)量級(jí)，所以輕微污染造成的腐蝕便會(huì)引起電子系統(tǒng)和電子產(chǎn)品發(fā)生短路或斷路故障，整個(gè)電路的故障原因往往是皮克數(shù)量級(jí)的腐蝕失重造成的。更有統(tǒng)計(jì)表明，腐蝕會(huì)導(dǎo)致20%的電子設(shè)備直接失效。
電子系統(tǒng)的腐蝕通常可以認(rèn)為是大氣腐蝕問(wèn)題。但電子系統(tǒng)的高集成度，器件之間狹窄的空間距離以及運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的巨大電場(chǎng)梯度都使得電子系統(tǒng)的腐蝕情況比一般的大氣腐蝕情況更加錯(cuò)綜復(fù)雜，相比之下電子系統(tǒng)的腐蝕風(fēng)險(xiǎn)也急劇增大。隨著電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域和應(yīng)用環(huán)境多樣化，越來(lái)越多的人關(guān)注電子系統(tǒng)的腐蝕問(wèn)題。
早在1968年，科學(xué)家就發(fā)現(xiàn)電子元器件會(huì)由于生成的氯化亞銅腐蝕產(chǎn)物而提前失效。1974年，Abbot深入地研究了大氣中各種污染氣體與電子元器件腐蝕之間的關(guān)聯(lián)，并得出SO2和NO2對(duì)電子元器件的腐蝕具有協(xié)同作用的重要結(jié)論。有研究課題組在Science上發(fā)表了一篇關(guān)于在水膜和污染物條件下電子系統(tǒng)腐蝕的論文。同一年，J. Zhang和X. Wen再一次證實(shí)腐蝕問(wèn)題會(huì)導(dǎo)致電子裝置的可靠性明顯降低，并發(fā)現(xiàn)電子元器件的腐蝕狀況會(huì)因?yàn)閴m埃產(chǎn)生復(fù)雜的變化。
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2016年6月17日
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